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精密低阻測量 
  在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。 

  高速測量 
  高速(34ms)內設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使生產測試時間縮短到限度。 

  自動測量方式 
  在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。
技術指標
  (的技術指標請參閱技術資料)
測量功能 
測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°]) 
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式) 
數(shù)學功能：偏差和相對偏差(以百分比表示) 
顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇) 
測試信號特性 
測試頻率：1kHz 
頻率精度：±0.1% 
測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms 
電平精度：±(10%＋0.2μA) 
樣品兩端的電壓：在任何情況下為20mV峰值 
測量范圍 
 參數(shù)   測量范圍 
 R     10μΩ~100kΩ 
 X,|Z|   10μΩ~100kΩ (典型值) 
 L     10nH~10H(典型值) 
 θ     -180°~＋180°(典型值) 
測量精度：R的基本精度為±0.4% 
測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔 
模式  時間(典型值) 
短   34ms 
中等  70ms 
長   900ms 
修正功能 
短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差 


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