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產(chǎn)品簡介
SOT89-3L開爾文老化座4.5*2.45mm芯片測試老煉方案
SOT89-3L開爾文老化座4.5*2.45mm芯片測試老煉方案
產(chǎn)品價格:¥40.00
上架日期:2025-02-11 00:59:27
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    型號IC測試冶具
    封裝/規(guī)格插件
    間距1.5mm
    總針腳數(shù)3L
    零件狀態(tài)在售
    安裝類型通孔
    特性針對IC、模塊進行燒錄測試老化等
    材料PEI
    規(guī)格多種規(guī)格
    售賣地全國
    價格來電咨詢
    專業(yè)高效
    發(fā)貨地深圳
    加工定制
    庫存情況充足
    渠道直銷
    是否現(xiàn)貨
    用途廣泛
    售后服務(wù)
    質(zhì)量
    貨期
    數(shù)量10000
    批號零售/整批
    品牌鴻怡電子
    封裝QFN\BGA\SOP\DDR

    SOT89-3L開爾文轉(zhuǎn)DIP 鍍金開爾文 測試座 老化燒錄 夾具插座直銷

    測試座型號 : SOT89-3L翻蓋式開爾文
    IC本體尺寸 : 2.5mm
    IC含腳尺寸 : 4.1mm
    IC 間 距 : 1.5mm
    IC 封 裝 : SOT89-3L
    高低溫范圍 : -45℃ ~ 175℃







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