| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號 | 1746-N2 |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
| LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點數(shù) | 8 |
| 功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 24-250V |
| 輸出頻率 | 50-260HZz | 處理速度 | 25.66s |
| 程序容量 | 38KB | 數(shù)據(jù)容量 | 42KB |
| 產(chǎn)品認(rèn)證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.65% |
| 環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
| 重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國 |
| 外形尺寸 | 178mm-235mm | ||
1746-N2 控制器
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號方案的不同的影響，是錯綜復(fù)雜的。就目前的在線測試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以，這項功能測試的結(jié)果，僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議，在對于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測試后，均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢？這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測試結(jié)果有時不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者，均知道有這么一句行話。“在線測試時不通過的芯片不一定是損壞的；測試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為，如器件受在線影響或抗干擾時，結(jié)果可能不通過，對此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測試時，均會得出“不通過”呢？回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過，明明芯片已損壞了（確切地說換上這個芯片板子就不工作了），但測試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測試儀自身工作原理（后驅(qū)動技術(shù)）所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
1746-N2 控制器
| 1746-A10 |
| 1746-A13 |
| 1746-A4 |
| 1746-A7 |
| 1746-HSCE |
| 1746-HSCE2 |
| 1746-IA16 |
| 1746-IB16 |
| 1746-IB32 |
| 1746-IM16 |
| 1746-IO12DC |
| 1746-ITB16 |
| 1746-IV16 |
| 1746-IV32 |
| 1746-N2 |
| 1746-NI16I |
| 1746-NI4 |
| 1746-NI8 |
| 1746-NIO4I |
| 1746-NIO4V |
| 1746-NO4V |
| 1746-NO4I |
| 1746-NO8I |
| 1746-NO8V |
| 1746-NR8 |
| 1746-NT8 |
| 1746-OA16 |
| 1746-OA8 |
| 1746-OB16 |
| 1746-OB16E |
| 1746-OB32 |
| 1746-OB32E |
| 1746-OBP8 |
| 1746-OV16 |
| 1746-OV32 |
| 1746-OW16 |
| 1746-OW8 |
| 1746-OX8 |
| 1746-P1 |
| 1746-P2 |
| 1746-P4 |
| 1747-BA |
| 1747-L511 |
| 1747-L514 |
| 1747-L524 |
| 1747-L532 |
| 1747-L533 |
| 1747-L541 |
| 1747-L542 |
| 1747-L543 |
| 1747-L551 |
| 1747-L552 |
| 1747-L553 |
| 1747-SDN |
| 1747-SN |
維修技巧之
維修經(jīng)驗總結(jié)
一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要
盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片
是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電
所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復(fù)位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應(yīng)注意復(fù)位問題.
2.在測試前裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機器試一試.以及多按幾次復(fù)
位鍵.
