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軍用電子元器件二次篩選

電子元器件篩選是通過(guò)?系列短期環(huán)境應(yīng)力加速試驗(yàn)及測(cè)試技術(shù)，對(duì)整批電子元器件進(jìn)行全批次非破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提高產(chǎn)品使用可靠性。

元器件二次篩選的必要性：

• 元器件生產(chǎn)方所開(kāi)展的一次篩選的項(xiàng)目與應(yīng)力條件很難完全滿足裝備研制的需要。
• 進(jìn)口的元器件通常都是工業(yè)級(jí)或中低檔產(chǎn)品，甚至存在假冒偽劣產(chǎn)品，難以保證質(zhì)量和可靠性。

元器件二次篩選的目標(biāo)：

• 設(shè)法在一批元器件中剔除那些由于原材料、設(shè)備、工藝、環(huán)境、人為等方面潛在的不良因素所造成的有缺陷的，或可能發(fā)生早期失效的器件，而挑選出具有一定特性的合格元器件。
• 經(jīng)過(guò)元器件篩選，產(chǎn)品的批次使用可靠性水平顯著提高，標(biāo)準(zhǔn)工況下使用，產(chǎn)品失效率可降低半個(gè)到兩個(gè)數(shù)量級(jí)，產(chǎn)生可觀的經(jīng)濟(jì)效益。

元器件篩選的特點(diǎn)：

• 不改變?cè)骷逃锌煽啃?，非破壞性試?yàn)；
• 對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選；
• 剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；
• 篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。
•  

元器件二次篩選性質(zhì)分類：

• 檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
• 密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏、濕度試驗(yàn)。
• 環(huán)境應(yīng)力篩選：振動(dòng)、沖擊、離心加速度、溫度沖擊、溫度存儲(chǔ)、綜合應(yīng)力。
• 壽命篩選：功率老化、反偏老化篩選。

元器件二次篩選應(yīng)遵循的原則： 

• 元器件二次篩選是一種全數(shù)試驗(yàn)項(xiàng)目，對(duì)于需要進(jìn)行二次篩選的元器件應(yīng)100%進(jìn)行篩選。
• 元器件二次篩選應(yīng)是非破壞性的，禁止將對(duì)元器件具有破壞性的試驗(yàn)或檢驗(yàn)列為二次篩選項(xiàng)目。
• 元器件二次篩選所加的應(yīng)力（包括：電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力等）不得超過(guò)產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定的元器件額定應(yīng)力。
• 元器件生產(chǎn)方一次篩選已經(jīng)進(jìn)行過(guò)的篩選項(xiàng)目，且能夠確定其有效性，則二次篩選不應(yīng)重復(fù)進(jìn)行相同的篩選試驗(yàn)項(xiàng)目。
• 通過(guò)較高應(yīng)力等級(jí)篩選的元器件，應(yīng)規(guī)為滿足所有較低應(yīng)力等級(jí)篩選。
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元器件二次篩選覆蓋標(biāo)準(zhǔn) ：

GJB 7243-2011軍用電子元器件篩選技術(shù)要求；

GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法； 

GJB 360A-96 電子及電?元件試驗(yàn)方法； 

GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 ； 

GJB 40247A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法； 

QJ 10003—2008 進(jìn)?元器件篩選指南； 

MIL-STD-750D 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法； 

MIL-STD-883G； 

電測(cè)試主要設(shè)備能力： 

阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測(cè)試儀

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、高精度圖示儀

網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀

數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)、模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)

繼電器測(cè)試系統(tǒng)、LCR、電阻計(jì)等

老煉試驗(yàn)的主要設(shè)備： 

• 單片集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)
• 混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)
• 電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)
• 晶體振蕩器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
• 分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng)
• 分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
• 電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)
• 大功率晶體管老煉檢測(cè)系統(tǒng)
• 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)
• 繼電器中電平壽命篩選系統(tǒng)
• 繼電器高電平壽命篩選系統(tǒng)

目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

• 光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

理化檢測(cè)能力覆蓋：

• 外觀檢測(cè)、內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)、密封性測(cè)試、內(nèi)部缺陷測(cè)試。

廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（廣電計(jì)量）從1964年開(kāi)始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成長(zhǎng)為一家全國(guó)性、綜合化、軍民融合的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn)、產(chǎn)品檢測(cè)及認(rèn)證、分析評(píng)價(jià)、咨詢培訓(xùn)、檢測(cè)裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和 產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

廣電計(jì)量可靠性與環(huán)境試驗(yàn)中心具備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、六性設(shè)計(jì)與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設(shè)計(jì)與分析、材料分析與工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)、定壽延壽分析等服務(wù)能力，可為系統(tǒng)、整機(jī)、部件等各類產(chǎn)品提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全過(guò)程技術(shù)解決方案。