最近中文字幕在线mv视频在线,中文字幕无码家庭乱欲,一区二区伊人久久大杳蕉 ,亚洲综合国产一区,夜夜爽www

芯片三溫測試:三溫篩選+開發(fā)測試

       芯片在封裝完成后以及在芯片成品完成可靠性驗證后對芯片進(jìn)行測功能驗證、電參數(shù)測試。主要的測試依據(jù)是集成電路規(guī)范、芯片規(guī)格書、用戶手冊。

        目前芯片量產(chǎn)測試主要用到ATE測試系統(tǒng)，包括軟件和測試設(shè)備、測試硬件。ATE是Automatic Test Equipment的縮寫， 于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動測試機(jī)， 用于檢測集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之*后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。

ATE主要測試項目如下：

• Open/Short test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。
• Function test: 測試芯片的邏輯功能。
• DC test: 驗證器件直流電流和電壓參數(shù)。
• AC test: 驗證交流規(guī)格，包括交流輸出信號的質(zhì)量和信號時序參數(shù)。
• Eflash test: 測試內(nèi)嵌flash的功能及性能，包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數(shù)。
• Mixed Signal test: 驗證DUT數(shù)模混合電路的功能及性能參數(shù)。
• RF test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數(shù)。

ATE程序開發(fā)：

• 測試方案開發(fā);
• 測試程序開發(fā);
• 三溫環(huán)境開發(fā);
• 測試硬件開發(fā);
• 測試技術(shù)支持;
• 篩選技術(shù)支持;

GRGT測試技術(shù)開發(fā)團(tuán)隊：

• 測試技術(shù)帶頭人擁有十幾年 J 民兩域的從業(yè)經(jīng)驗;
• 測試技術(shù)核心成員均來自國內(nèi)*芯片設(shè)計公司;
• 項目開發(fā)經(jīng)驗豐富 ;
• 熟悉產(chǎn)業(yè)鏈;