| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 公司名稱 | 廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司 | 服務(wù)內(nèi)容 | 芯片F(xiàn)T測(cè)試,芯片量產(chǎn)測(cè)試,ATE測(cè)試程序開(kāi)發(fā) |
| 專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域 | 芯片測(cè)試 | 咨詢熱線 | 13808840060 |
| 所在地 | 廣州 福建 四川 山東 江蘇 上海 天津 河北 湖北 | ||
芯片F(xiàn)T測(cè)試、量產(chǎn)測(cè)試
FT（Final Test）是芯片在封裝完成以后進(jìn)行的最終的功能和性能測(cè)試，檢測(cè)封裝工藝和制造缺陷等生產(chǎn)環(huán)節(jié)問(wèn)題的芯片，只有通過(guò)測(cè)試的芯片才會(huì)出貨。通常覆蓋全pin性能參數(shù)，補(bǔ)充CP未覆蓋的功能。 常見(jiàn)的測(cè)試硬件：ATE+Handler+loadboard。
測(cè)試硬件為loadboard+socket+changekit，主要用于測(cè)試設(shè)備與封裝后芯片的物理連接，依據(jù)不同封裝，制作相應(yīng)的測(cè)試硬件。考慮平臺(tái)兼容性、連接的信號(hào)質(zhì)量、測(cè)試效率與成本。常見(jiàn)的loadboard有4site、8site、16site等。
ATE（automatic test equipment）自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試集成電路功能、直流參數(shù)和交流參數(shù)的測(cè)試設(shè)備，檢測(cè)被測(cè)器件參數(shù)和性能指標(biāo)是否滿足規(guī)范。集計(jì)算機(jī)技術(shù)、自動(dòng)化技術(shù)、通信技術(shù)、精密電子測(cè)量技術(shù)和微電子技術(shù)于一身。
測(cè)試依據(jù)：集成電路規(guī)范、芯片規(guī)格書(shū)、用戶測(cè)試方案 。
測(cè)試內(nèi)容：包含功能測(cè)試和DC&AC電參數(shù)測(cè)試
